[피플] 여성 반도체 엔지니어로 25년…대한민국 엔지니어상 받은 정신영 삼성전자 연구원

시스템 반도체 수율 개선 앞장…“가정·육아 완벽하지 못했지만, 자녀에 롤 모델 역할 자부”

(출처=삼성전자 반도체 블로그)

“25년간 여성 엔지니어로 생활하면서 가정과 육아에 완벽하지 못했던 점도 있었겠지만, 저희 아이들에게 저의 근면 성실함과 사회에서 필요한 사고방식을 생생하게 전해주는 롤 모델의 역할을 해왔다고 자부합니다.”

삼성전자 파운드리(Foundry) 사업부 제품기술팀 정신영<사진> 연구원은 20년 이상 반도체 외길을 걸어온 여성 반도체 전문가다. 애플리케이션 프로세서(AP) 칩 등 시스템 반도체 칩의 개발 및 생산 단계에서 웨이퍼 레벨(Wafer-level) 평가·분석 업무를 담당하고 있다. 업무 특성상 반도체 공정의 시작인 신규 공정 개발부터 고객에게 전달된 시료 분석까지 전 영역의 부서와 협업하며 업무를 진행하고 있다.

정 연구원은 지난 8일 ‘시스템 반도체 칩의 전기적 빅데이터를 이용한 비파괴 수율 분석 시스템’ 개발로 국내 반도체 산업 발전에 기여한 공을 인정받아 ‘대한민국 엔지니어상’ 여성 엔지니어 부문을 수상했다.

대한민국 엔지니어상은 국가경쟁력 및 산업 발전에 크게 기여한 우수 엔지니어를 포상하는 시상식이다. 2002년 시작된 이래로 매달 대기업과 중소기업 부문 각 1명씩 산업현장의 우수 기술자를 선정하고 있다.

정 연구원에게 상을 안긴 시스템은 로직 칩 테스트 중에 생성되는 전기적 데이터를 이용해 비파괴 방식으로 칩의 불량 원인을 분석하는 수율 분석 시스템이다.

기존에는 겹겹이 쌓인 칩을 단면ㆍ평면으로 쪼개서 불량을 검사해야 했다. 반면, 비파괴 방식은 칩을 쪼개지 않고 전기적 특성만으로 불량을 분석하는 방법이다. 이를 통해 시간을 줄이고 엔지니어의 노고도 줄일 수 있다.

정 연구원은 “기존에는 생산 중인 웨이퍼를 샘플링해 파괴 분석을 통해 불량 등을 검출하다 보니 웨이퍼의 샘플링 오류나 불량 분석 소요시간이 길다는 이슈가 있었다”면서 “하지만 이 시스템은 기존 수율 분석 방식의 한계점을 극복하는 획기적인 로직 칩 수율 분석 시스템이라고 할 수 있다”고 설명했다.

정 연구원은 2015년부터 연구·개발을 시작했다. 개발과정은 순탄치 않았다. 선행 공정을 개발·양산하는 과정에서 수율이 떨어졌을 때 원인 공정을 찾는데 어려움을 겪었다. 그때마다 원인 공정을 찾고 수정하며 수율을 다시 개선했다.

그는 “수율 개선에 도움이 되었을 때마다 그 기쁨은 이루 말할 수 없었고, 이러한 경험은 다양한 분석 방법을 개발하게 해주는 원동력이 됐다”고 말했다.

정 연구원은 이번 수상의 영광을 동료와 가족에게 돌렸다. 그는 “저희 팀 구성원들이 모두 유연한 사고와 뛰어난 열정을 가지고 있었기 때문에 가능했다고 생각한다”고 소감을 밝혔다.

정 연구원의 남편은 시상 후 무대에 올라 “그동안 바쁜 모습을 보면서 잔소리도 많이 했지만, 이렇게 자랑스럽게 대한민국을 대표하는 엔지니어로서 상을 받는 모습을 보니 기쁜 마음”이라며 “앞으로도 동료 그리고 반려자로서 함께 노력하고 응원하며 더 큰 결실 볼 수 있도록 돕겠다”고 축하 인사를 건넸다.